1)Структура технических материалов далеко не всегда соответствует идеальным представлениям о регулярном расположении частиц в кристаллической решетке. Дефектами называют нгесовершенства кристаллического строения, нарушения строго периодического расположения частиц в узлах кристаллической решетки. Они образуются в процессе кристаллизации, под влиянием электрического и магнитного полей, тепловых и механических воздействий, при введении в кристаллы примесей. Так называемые радиационные дефекты возникают при облучении кристаллических материалов потоками частиц и жестким электромагнитным излучением. Классификация структурных дефектов проводится по их пространственной протяжённости. Различают дефекты: точечные (нульмерные), линейные (одномерные), поверхностные (2-х мерные) и объёмные (3-х мерные) дефекты.
Объяснение:
HCl + NaOH = NaCl + H2O
H(+) + Cl(-) + Na(+) + OH(-) = Na(+) + Cl(-) + H2O
H(+) + OH(-) = H2O
Na2CO3 + BaCl2 = BaCO3↓ + 2NaCl
2Na(+) + CO3(2-) + Ba(2+) + 2Cl(-) = BaCO3↓ + 2Na(+) + 2Cl(-)
Ba(2+) + CO3(2-) = BaCO3↓
Na2SO4 + BaCl2 = BaSO4↓ + 2NaCl
2Na(+) + SO4(2-) + Ba(2+) + 2Cl(-) = BaSO4↓ + 2Na(+) + 2Cl(-)
Ba(2+) + SO4(2-) = BaSO4↓
NaCl + AgNO3 = AgCl↓ + NaNO3
Na(+) + Cl(-) + Ag(+) + NO3(-) = AgCl↓ + Na(+) + NO3(-)
Ag(+) + Cl(-) = AgCl↓