Возможно решение в общем виде, но так, по-моему, нагляднее..))
Пусть напряжение в сети U = 220B
1) 2 спирали одинаковой мощности (и одинакового же сопротивления, допустим, по 100 Ом): а. Режим половинной мощности (включена в сеть одна спираль): I₁ = U/R₁ = 220:100 = 2,2A P₁ = I²R₁ = 2,2²*100 = 484 (Вт) б. При последовательном соединении двух одинаковых спиралей: I = U/R = U/(R₁+R₁) = 0,5*U/R₁ = 0,5*220:100 = 1,1 (A) Мощность, выделяемая при этом: P = I²R = 1,1²*200 = 242 (Вт) в. При параллельном соединении двух одинаковых спиралей получаем режим полной мощности: R = R₁²/2R₁ = 0,5R₁ = 0,5*100 = 50 (Ом) I = U/R = 220:50 = 4,4 (A) Мощность, выделяемая при этом: P = I²R = 4,4²*50 = 968 (Вт) Или так: Мощность двух спиралей, соединенных параллельно, равна сумме мощностей каждой спирали: P = P₁+P₁ = 2P₁ = 2*484 = 968 (Вт) Всего, при различном подключении двух одинаковых спиралей с сопротивлениями по 100 Ом, можно получить 3 разных режима нагревания с мощностями: 484 Вт; 242 Вт; 968 Вт
2) Две спирали разной мощности (и разного сопротивления, допустим, R₁=100 Ом, R₂=200 Ом) а) Одинарное подключение каждой спирали: I₁ = U/R₁ = 220:100 = 2,2 (A) P = I²R = 2,2²*100 = 484 (Вт) I₂ = U/R₂ = 220:200 = 1,1 (A) P = I²R = 1,1²*200 = 242 (Вт) б) При последовательном подключении разных спиралей: R = R₁+R₂ = 100+200 = 300 (Ом) I = U/R = 220:300 = 0,733 (А) P = I²R = 0,733²*300 = 161,3 (Вт) в) При параллельном подключении разных спиралей: P = P₁+P₂ = 484+242 = 726 (Вт)
Всего, при различном подключении двух разных спиралей с сопротивлениями 100 и 200 Ом, можно получить 4 разных режима нагревания с мощностями: 484 Вт; 242 Вт; 161,3 Вт; 726 Вт
Дифракцией рентгеновских лучей называют явление рассеяния этих лучей при кристаллов или молекул газов и жидкостей, при котором появляются вторичные отклоненные пучки, имеющие равные с первоначальным длины волн.Вторичные пучки возникают в результате взаимодействия рентгеновских лучей с электронами среды. Строение рассеивающего объекта определяет направления и интенсивности полученных пучков. Пучки, полученные в результате дифракции, являются частью всего рентгеновского излучения, которое рассеяло вещество.Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов используется для изучения состава спектра рентгеновского излучения (рентгеновская спектроскопия) и при исследовании кристаллических структур (рентгеноструктурный анализ).Находя направления максимумов, которые получаются при дифракции рассматриваемого рентгеновского излучения от кристаллов, структура которых известна, находя длины волн. Проще всего для нахождения длин волн использовать кристаллы кубической системы. Межплоскостные расстояния при этом находят из плотности и относительной молекулярной массы кристалла. То есть, Кристалл является естественной трёхмерной дифракционной решёткой для рентгеновских лучей, т.к. расстояние между рассеивающими центрами (атомами) в кристалле одного порядка с длиной волны рентгеновских лучей на кристаллах можно рассматривать как избирательное отражение рентгеновских лучей от систем атомных плоскостей кристаллической решётки
вот вчера делали у меня из 10