Плотность обозначим через D (в дальнейшем я буду писать просто D, а ты пиши как в первом случае) 1) D = M (CxHy)\2 = 39, следовательно, M (CxHy) = 2*39=78 г\моль 2) 78 г\моль --- 100% M(С) г\моль --- 92,3% M(C) = 92,3 * 78 \ 100 = 71,99 г\моль 3) M(H) = 78 - 72 = 6 г\моль 4) x:y = (72:12) \ (6:1) = 1:1 -----> С1Н1 = простейшая формула 5) по молекулярной массе не подходит, значит, формула не подходит. Следовательно, для того, чтобы удовлетворяло молярной массе 78 г\моль, подберем другую формулу. Это при x=y=6 - С6H6 - истинная формула 6) Проверим: М (С6H6) = 6*12 + 6*1 = 78 г\моль
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
(в дальнейшем я буду писать просто D, а ты пиши как в первом случае)
СН₂ ― OH
|
CH ― OH
|
CH₂ ― OH