Гексаналь можно отличить при так называемой реакции серебряного зеркала. Серебро выпадает в осадок, образуя зеркальную поверхность. Общий вид: R–CH=O + 2[Ag(NH3)2]OH ---> RCOOH + 2Ag (осадок) + 4NH3 + H2O В данном случае: CH3-CH2-CH2-CH2-CH2-CH=O + 2 [Ag(NH3)2]OH ---> CH3-CH2-CH2-CH2-CH2-COOH + 2Ag (осадок) + 4NH3 +H2O Качественной реакцией на алкены, к коим принадлежит гексен, является реакция с бромной водой. При наличии двойной связи между углеродами (С=С) бромная вода, имеющая желто-оранжевый цвет, обесцвечивается. CH3-CH2-CH2-CH2-CH=CH2 + Br2 (бромная вода) ---> CH3-CH2-CH2-CH2-CBr-CBrH (Бром реагирует с теми атомами С, которые участвовали в = связи.) Гексиламин можно будет отличить тем, что он не прореагировал ни с одним из предложенных реагентов, так как он не содержит ни C=C, ни альдегидной группы.
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
