Объяснение:
Задание 2. Приготовление раствора молярной концентрации Необходимо приготовить раствор заданной молярной концентрации разбавлением исходного раствора. Исходные данные: - название вещества, раствор которого необходимо приготовить – серная кислота; - плотность исходного раствора данного вещества – 1,432 г/мл; - концентрация и объем раствора, который нужно приготовить – 0,1 моль/л и 500 мл соответственно.
1. Рассчитайте, какая масса серной кислоты содержится в 500 мл 0,1 М раствора серной кислоты:
m(H2SO4) = Cм × М × V (р-ра) л = 0,1 моль/л × 98 г/моль × 0,5 л=
4,9 г
2. Исходный раствор серной кислоты ρ = 1,432 г/мл, ω = 53,71%
3. Вычислим массу 53,71% раствора серной кислоты:
4,9 г : 0,5371 = 9,123 г
4. Вычислим объем раствора массой 9,123 г: 9,123 : 1,432 = 6,37 мл.
5. Отмеренный объем 53,71% раствора серной кислоты (6,37 мл)
поместить в мерную колбу на 500 мл разбавить водой, перемешать и довести дистилированной водой до метки и еще раз перемешать содержимое колбы.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.