Молярная масса водорода равна 1 г/моль. Плотность углеводородов по сравнению с водородом равна 13, что означает, что масса углеводорода в 13 раз больше, чем масса водорода при одинаковом объеме.
Массовая доля углерода равна 92,3%, следовательно массовая доля водорода будет 7,7%:
Массовая доля углерода + массовая доля водорода = 100%
92,3% + 7,7% = 100%
Теперь можно рассчитать молярную массу углеводорода:
Молярная масса углеводорода = (массовая доля углерода x атомная масса углерода) + (массовая доля водорода x атомная масса водорода)
Молярная масса углеводорода = (0,923 x 12,01 г/моль) + (0,077 x 1,01 г/моль) = 11,13 г/моль
Теперь необходимо найти молекулярную формулу углеводорода. Предположим, что молекула углеводорода содержит n атомов углерода и 2n + 2 атомов водорода. Тогда молярная масса углеводорода может быть выражена как:
Молярная масса углеводорода = n x атомная масса углерода + (2n + 2) x атомная масса водорода
11,13 г/моль = n x 12,01 г/моль + (2n + 2) x 1,01 г/моль
Решив уравнение, получим:
n ≈ 7
Таким образом, молекулярная формула углеводорода будет C7H16
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.