Ионное никак не получится, потому что это окислительно-восстановительная реакция. В скобках указаны степени окисления, их пишут в правом верхнем углу элемента.
S + 2HNO3 = H2SO4 + 2NО
Восстановитель окисляется: S(0) - 6e = S(+6) | 6
Окислитель восстанавливается: HN(+5)O3 + 3e = N(+2)O | 3
PH воды равен 7 V воды =10л m H2SO4 =0.98г M H2SO4 =98г/моль [OH-] ? определим количество вещества серной кислоты в растворе воды n=m/M=0.98г/98г/моль=0.01моль определим концентрацию серной кислоты С=n/V=0.01моль/10л=0.001 моль/л Уравнение диссоциации серной кислоты H2SO4=2H⁺+SO4²⁻ 1 моль кислоты дает 2 моля протонов H⁺, поэтому концентрация протонов равна 0.001*2=0.002 моль/л pH=-lg[H⁺]=-lg 0.002=2.69=3 pH изменился с 7 до 3 (уменьшился на 4 пункта) 2) [OH-] ? pH+pOH=14 pOH=14-3=11 pOH=-lg [OH-], отсюда [OH-]=10^⁻pOH=10^-11=1*10^-11 моль/л
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
Ионное никак не получится, потому что это окислительно-восстановительная реакция. В скобках указаны степени окисления, их пишут в правом верхнем углу элемента.
S + 2HNO3 = H2SO4 + 2NО
Восстановитель окисляется: S(0) - 6e = S(+6) | 6
Окислитель восстанавливается: HN(+5)O3 + 3e = N(+2)O | 3
Наименьшее общее кратное: 6
Коэффициент при восстановителе: 6/6 = 1.
Коэффициент при окислителе: 6/3 = 2.