Равновесие в системе наступит в том случае, если энергия гиббса системы равна 0 т.е. δrg⁰ = 0 т.к. δrg⁰ = δrh⁰ - tδrs° δrh⁰ - tδrs° = 0 δrh⁰ - известно - 128,05 кдж*моль⁻¹ δrs° рассчитаем по закону гесса: δrs° = s⁰(ch₃oh) - [s⁰(co) + 2s⁰(h₂)] из справочника: s⁰(ch₃oh) = 0,127 кдж*моль⁻¹к⁻¹ s⁰(co) = 0,198 кдж*моль⁻¹*к⁻¹ s⁰(h₂) = 0,131 кдж*моль⁻¹*к⁻¹ подставляем в закон гесса: δrs° = 0,127 - (0,198 + 2*0,131) = -0,333 кдж*моль⁻¹*к⁻¹ 0 = -128,05 - t(-0,333) 128,05 = 0,333t t = 385,53к
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
