1. Находим массу сахара в 150 г раствора: 100 - 20 = 80 % m = 150 - (150 x 80 / 100) = 30 г После добавления еще 30 г сахара получилось 30 + 30 = 60 г сахара Находим массовую долю сахара: w = 60 / 180 = 0.33 или в процентах: w = 60 x 100 / 180 = 33 %
2. Находим массу кислоты в 80 г 40%-ного раствора: 100 - 40 = 60 % m (Н₂SO₄) = 80 - (80 x 60 / 100) = 32 г Находим массу кислоты в 160 г 10%-ного раствора: 100 - 10 = 90 % m (Н₂SO₄) = 160 - (160 x 90 / 100) = 16 г После сливания растворов вместе масса кислоты стала: 32 + 16 = 48 г После сливания растворов общая его масса составила 80 + 160 = 240 г Находим массовую долю кислоты в полученном растворе: w = 48 / 240 = 0,2 или в процентах: w = 48 x 100 / 240 = 20 %
1)Структура технических материалов далеко не всегда соответствует идеальным представлениям о регулярном расположении частиц в кристаллической решетке. Дефектами называют нгесовершенства кристаллического строения, нарушения строго периодического расположения частиц в узлах кристаллической решетки. Они образуются в процессе кристаллизации, под влиянием электрического и магнитного полей, тепловых и механических воздействий, при введении в кристаллы примесей. Так называемые радиационные дефекты возникают при облучении кристаллических материалов потоками частиц и жестким электромагнитным излучением. Классификация структурных дефектов проводится по их пространственной протяжённости. Различают дефекты: точечные (нульмерные), линейные (одномерные), поверхностные (2-х мерные) и объёмные (3-х мерные) дефекты.
3Na20 + 2H3PO4 -> 2Na3PO4 + 3H2O