Концентрации: Массовая доля (также называют процентной концентрацией) : С = m1/m где: m1 — масса растворённого вещества, г (кг) ; m — общая масса раствора, г (кг) . Массовое процентное содержание компонента, m% m%=(mi/Σmi)*100
Молярность (молярная объёмная концентрация) — количество растворённого вещества (число молей) в единице объёма раствора. C(M) = n / V где: n— количество растворённого вещества, моль; V — общий объём раствора, л.
Нормальная концентрация (мольная концентрация эквивалента) C(N) = z / V где: V — общий объём раствора, л; z — число эквивалентности (числу эквивалентов растворенного вещества) .
Моляльность раствора, концентрация раствора, выраженная числом молей (грамм-молекул) растворённого вещества, содержащегося в 1000 г растворителя вычисляется как отношение n*1000/m, где n - число молей растворенного вещества, m- масса растворителя
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
CH3-CH2-CH-CH-CH2-CH3
| |
CH3 NH2